試験機/検査装置/関連製品/関連サービス 製品・サービス

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  • 全天候スクリーン『NA-0303』 全天候スクリーン『NA-0303』
    • カタログ

    風雑音の軽減、雨・雪による防水効果と十分な耐久性を持った全天候型スクリーンです。 【構成】 ウインドスクリーン(Φ200):1個 マイクロホンカバー (防水加工:フッ素シート):1個 マイクロホン取付金具:1個 三脚取付金具:1個 延長ケーブル(防水タイプコネクタ) 0.5m BC-0046A:1本 ※全天候スクリーン付属の延長ケーブルと騒音計本体とを接続する延長ケーブルが、別途必要になります。 ※詳しくはお問い合わせください。

    対象業界: 化学原料・化学製品 衣服・繊維工業 食品・飲料

    株式会社アコー

  • 防水型普通騒音計『TYPE 6226NW』 防水型普通騒音計『TYPE 6226NW』
    • カタログ

    アコー新製品TYPE 6226NWは、新たに開発された特殊防水技術と延長ケーブル付きの「防水型騒音計」です。 屋外・屋内を問わず雨・水しぶき・高湿度が予想される現場で使用可能なので雨天下でも快適な騒音測定ができます。 ※詳しくは、カタログをダウンロードするかお問い合わせください。

    対象業界: 化学原料・化学製品 衣服・繊維工業 食品・飲料

    株式会社アコー

  • 校正装置『TYPE 2124A』 校正装置『TYPE 2124A』
    • カタログ

    TYPE 2124Aは、騒音計用の250Hz、音圧レベル124dB音を発生する標準発生器です。 ※詳しくはお問い合わせください。

    対象業界: 化学原料・化学製品 衣服・繊維工業 食品・飲料

    株式会社アコー

  • 騒音計『TYPE 6236 / 6238』 騒音計『TYPE 6236 / 6238』
    • カタログ

    『TYPE 6236 / 6238』は、環境測定の評価に適した各種評価量をはじめ、オプションの分析プログラムカードをカードスロットに差し込むだけで簡単に機能を拡張できます。 【特長】 ■NC値表示機能を搭載 ■プログラムカード(SDカード)による機能拡張 ■タイマー機能搭載で任意時間での測定開始・停止が可能 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

    対象業界: 機械部品 産業用機械・装置 産業用電気機器・制御機器

    株式会社アコー

  • 音響校正器『TYPE 2127』 音響校正器『TYPE 2127』
    • カタログ

    『TYPE 2127』は、小型・軽量で取り扱いやすいフィードバック制御型の音響校正器。 JIS C 1515:2004クラス1とIEC60942:2003クラス1に適合し、安定したコンデンサマイクを制御センサとして使用しています。 さらに、温度補正機能を追加し、発音レベルをリアルタイムで厳重に管理しているため、気圧変化やマイクロホンの挿入不良などによる誤差も発生しにくいのが特長です。 【特長】 ■発音制御:温度補正付き専用センサーによる高精度フィードバック制御 ■適合規格:JIS C 1515:2004クラス1とIEC 60942:2003クラス1に適合 ■校正対象:専用アダプタにより、1インチ・1/2インチマイクや騒音計に対応 ■発音レベル・周波数:最も一般的な公称94dB・1000Hz ■電池切れ:LED点滅と発音停止による警告で誤使用を回避 ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

    対象業界: 半導体・液晶・FPD 電子部品・電気部品 機械部品

    株式会社アコー

  • 分析装置 "ESCA" 分析装置 "ESCA"
    • カタログ

    X線を走査しながら照射することで発生する二次電子像により測定場所を特定。 局所的な組成および化学結合状態の分析が可能です。また、面分析も可能な装置です。 *詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

    対象業界: その他の製造業

    Ion Technology Center Co.,Ltd/株式会社イオンテクノセンター

  • 分析 "二次イオン質量分析" 分析 "二次イオン質量分析"
    • カタログ

    数keVのCsやO2イオンをサンプルに照射して放出される二次イオンの質量分析を行います。 それにより、高感度の元素分析や低エネルギーイオンによる深さ分解能の優れた測定が可能になっています。 ※詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

    対象業界: その他の製造業

    Ion Technology Center Co.,Ltd/株式会社イオンテクノセンター

  • 事例紹介 "化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定" 事例紹介 "化合物半導体系超格子サンプルにおける深さ分解能測定"
    • カタログ

    Q-pole SIMS(アルバックファイ:ADEPT-1010)によって、Al0.28Ga0.72As/GaAsを50nmずつ分子線エピタキシー(MBE)で成膜した化合物半導体サンプルを試料として用いて、深さ分解を求めた結果を掲載しています。 *詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

    対象業界: その他の製造業

    Ion Technology Center Co.,Ltd/株式会社イオンテクノセンター

  • 事例紹介 "マイクロESCAによる分析" 事例紹介 "マイクロESCAによる分析"
    • カタログ

    二次電子像から分析視野を指定してその領域の銅の面分析を行った結果、二次電子像に対応した銅の分布が得られます。 さらにこのデータから測長機能を利用してメッシュ間距離などを測ることができます。 *詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

    対象業界: その他の製造業

    Ion Technology Center Co.,Ltd/株式会社イオンテクノセンター

  • 事例紹介 "ESCAによる多層膜の深さ分析" 事例紹介 "ESCAによる多層膜の深さ分析"
    • カタログ

    シリコン基板の上にシリコン酸化膜とチタン酸化膜の積層膜をESCA(Quantum-2000)によって分析した結果を詳しく掲載しております。 *詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

    対象業界: その他の製造業

    Ion Technology Center Co.,Ltd/株式会社イオンテクノセンター

  • クボタ 粒体異物選別機 スーパープラトン KP-10000T クボタ 粒体異物選別機 スーパープラトン KP-10000T
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    クボタのプラスチックペレット異物選別機の第3世代機。全方位拡散照明方式の新技術とセンサカメラの増設により、さらに高精度な選別を実現。また、新たに透明原料の選別も可能になりました。

    対象業界: 自動車部品 化学原料・化学製品 樹脂・プラスチック・ゴム製品

    KUBOTA Corporation

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